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雲母上の金の薄膜の厚みはどの様に計測していますか？

雲母上の金の厚さの計測はX線回折分析で行っています。 回折面の有限数は、回折強度の発振となります。その発信期間は膜厚に比例します。 私たちは、AU(111）の001ピーク周囲での回折強度の発振を使用します。 これらの発振は膜厚さ計測するために数学的にシミュレートされます。 有限サイズの発振が生ずる事は、試料の高い結晶化度を示します。

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